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受託検査

概要
  MEMSセンサー・パッケージレベルの評価試験・温度補正検査の受託を開始致しました。


対象MEMSセンサ
MEMS加速度センサー MEMS角速度センサー
MEMSモーションセンサー MEMS圧力センサー
 
検査受託形態
持込み検査:
      検査するデバイス(や計測器)を持ち込んで、計測作業を共同で行ないます。
完全受託検査:
      検査対象デバイスをお預かりし、貴社ご要求検査仕様で検査致します。
 
検査内容
MEMS加速度センサー




低G出力測定
加速度センサー校正検査装置_低Gタイプ 印加G範囲:1〜20G
試験温度:室温
高G出力測定
加速度センサ校正検査装置_高Gタイプ 印加G範囲:1〜2,000G
試験温度:室温
 
MEMS角速度センサー




出力測定
角速度センサー校正検査装置_開発レベル 角速度範囲:0.01〜2,400deg/sec
試験温度:室温
 
MEMS圧力センサー




出力測定
圧力センサ校正検査装置 絶対圧・ゲージ圧のいずれでも可
圧力範囲:@-100〜700KPaG/800KPaG
               A-100〜100KPaG/200KPaG
温度範囲:-35〜+100℃



検査装置(2D/3D)
通信システム
MEMSセンサー検査装置
OEM開発
受託検査
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