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レーザーダイオードエージング検査装置 |
レーザーダイオードウェハレベル及びパッケージレベルの
温度特性試験の省力化に貢献致します。
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 下記ラインアップを準備しております。 |
| ① |
ウェハレベルタイプ |
MODEL：LDA-W007 |
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| ② |
パッケージレベルタイプ |
MODEL：LDA-P008 |
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レーザーダイオードウェハレベルエージング装置 MODEL：LDA-W007 |
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+250℃連続加熱・出力測定を実現したセミオートプロービング装置です。
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装置仕様 |
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| ウェハサイズ |
2～4ｲﾝﾁ ※異形ウェハも可 |
| プローブ(例) |
20pin×1列or20pin×2列
プローブピッチ250μm |
| エージング温度 |
Rt+20℃～+250℃ |
| 試験モード |
・高電圧定電流試験モード
・低電圧定電流試験モード
・光パワー測定モード |
| 装置外形寸法 |
1,240mm(W)×1,400mm(H)×1,240mm(D) |
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レーザーダイオードパッケージレベルエージング装置 MODEL：LDA-P008 |
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電源／光パワー／電流特性の温度特性試験の省力化に貢献します。
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装置仕様 |
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| 発光+受光素子収納数 |
160組 |
| ｴｰｼﾞﾝｸﾞ温度 |
-20℃～+150℃ |
| 試験モード |
・電圧～電流測定モード
・電圧～光パワー測定モード |
| 装置外形寸法 |
1,000mm(W)×1,700mm(H)×1,200mm(D)
(恒温槽部のみ) |
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